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台积电40nm工艺再遇障碍,良率再次跌至40%

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标题:台积电40nm工艺再遇障碍,良率再次跌至40%
详情介绍-作者:xiaowei-来源: 极全网 -如有问题点击:在线客服帮助

台积电曾在8月初表示,40nm核心工艺的良品率已由年初的30%提升至60%,但是近日有消息指台积电在40nm工艺上再遇障碍,导致良率下降至40%,而这一消息已经得到了台积电CEO张忠谋的证实。

据Digitimes报道,台积电透露40nm良率下降是缘于设备腔体接合(chambermatching)问题,而目前主要的客户仍然是刚刚发布RadeonHD5800系列的AMD和正在积极筹备GT300的NVIDIA。虽然张忠谋承诺将在本季度解决这一问题,但是仍然极有可能影响到两家的产品供货计划。

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